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專利資訊

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112服務創新工研院生醫所潘詔智,范振業,邱創汎,簡虹琪,陳惠玲 精確序列資訊及修飾鹼基位置確認的方法  2024-11-04 09:35
112服務創新工研院生醫所邱創汎,蒲盈志,潘詔智,石志聰,李明家,郭晛修,簡虹琪,曲昌盛 單分子偵測系統及方法  2024-11-04 09:35
112服務創新工研院量測中心劉軍廷,張涵寓,何柏青,陳國棟,吳文立,傅尉恩 被動式基材螢光薄膜厚度檢測裝置及方法  2024-11-04 09:35
112服務創新工研院量測中心劉軍廷,張涵寓,何柏青,陳國棟,吳文立,傅尉恩 被動式基材螢光薄膜厚度檢測裝置及方法  2024-11-04 09:35
112服務創新工研院量測中心劉軍廷,張涵寓,何柏青,陳國棟,吳文立,傅尉恩 被動式基材螢光薄膜厚度檢測裝置及方法  2024-11-04 09:35
112服務創新工研院量測中心魏祥鈞,郭仲倫,卓嘉弘,羅竣威,劉志祥 一種取得與分析物體表面形貌的光學量測系統  2024-11-04 09:35
112服務創新工研院量測中心劉軍廷,吳文立,何柏青,陳國棟,吳昇勳,傅尉恩 用於檢測平面基板上之三維奈米結構的X光反射儀與其方法  2024-11-04 09:35
112服務創新工研院量測中心黎宇泰,林瑋佑,林家任,連慶,謝卓帆 掃描裝置之調校組件與調校系統  2024-11-04 09:35
112服務創新工研院量測中心范盛詮,葉哲維,黃文聖,賀瓏,朱鍵誠,邱欣瑜,蔡峰杰,徐福得 地下水管洩漏檢測系統及方法  2024-11-04 09:35
112服務創新工研院量測中心黎宇泰,林家任,林瑋佑,林高祺,謝卓帆,吳登峻 微流道感測晶片及其量測系統  2024-11-04 09:35
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更新日期:2024-08-15

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